顯微鏡無縫導航樣品,自動聚焦于感興趣的區域,快速實現高分辨率的SEM成像和分析。 實時分析 使用嵌入式能量色散X射線探測器(EDS),可以自動檢測并實時顯示EDS光譜和構成樣品的主要元素。 實時3D成像 除了實時SEM圖像,NeoScope還可以顯示樣品表面的實時3D圖像,包括樣品表面形貌和深度信息。 自動操作功能 基于樣品類型和應用的自動條件設置可確保高質量的結果并提高生產率。...
它可以與任一掃描電子顯微鏡(SEM)和掃描電鏡相關的能量色散X射線光譜儀(EDS),或微X射線熒光(μXRF)分析儀一起使用。它的多功能,第三代自動化和前瞻性的定量分析能力,使AMICS成為地質和材料科學研究中的理想工具,以及用于各種工業和探索應用,如采礦、石油與天然氣、煤、水泥、精煉和回收等。 ...
除了主要優點外,掃描電子顯微鏡還被證明是一種通用平臺,可增加簡單成像以外的功能。?可以用場發射槍(FEG)替代或補充熱電子槍,這樣可以大幅提高SEM的空間分辨率。 SEM可以配備聚焦離子束(FIB)功能,從而進行離子束研磨和沉積。 能量色散X射線光譜儀(EDS或EDX)允許用戶使用電子束撞擊樣品時產生的X射線分析樣品的化學成分。 通過在腔室添加探針,用戶可以分析樣品的導電率。...
就定量來說,SEM點分析比線分析和面分析更準確,掃描的方式不同,線分析和面分析只能定性的分析觀察視場的元素分布情況(線分析是沿著某個界面的元素分布起伏,而面分析是看整個視場的元素分布情況),點分析可以基本定量分析元素。SEM/EDS是掃描電子顯微鏡和X-射線能量色散譜儀的簡稱,兩者組合使用,功能非常強大,既能觀察微區的形貌又能對微區進行成分分析,在各類分析工作中被廣泛運用。...
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