達妮埃拉·平娜(Daniela? Pinna)PART.1分 類掃描電子顯微鏡 ( SEM ) 結合能量色散X射線光譜法 (energy dispersive X-ray spectroscopy, EDS/EDX) 為侵入式檢測技術,需做微取樣才能進行觀察與分析。但尺寸較小的待檢物也可置于樣品室內進行分析,這種情況下則可視為非侵入式檢測。微樣品或待檢物必須可耐受中度真空條件。...
除了主要優點外,掃描電子顯微鏡還被證明是一種通用平臺,可增加簡單成像以外的功能。?可以用場發射槍(FEG)替代或補充熱電子槍,這樣可以大幅提高SEM的空間分辨率。 SEM可以配備聚焦離子束(FIB)功能,從而進行離子束研磨和沉積。 能量色散X射線光譜儀(EDS或EDX)允許用戶使用電子束撞擊樣品時產生的X射線分析樣品的化學成分。 通過在腔室添加探針,用戶可以分析樣品的導電率。...
它具有高分辨率和靈敏度,在科學研究中擁有公認的特殊性能,成為一款領先的分析工具,普遍適用于聚合物合成,材料科學和生物高分子領域研究。 日本電子? JMS-S3000 InTouch Scope SEM 日本電子InTouchScope可移動掃描電鏡提供的成像和分析結果觸手可及,無線功能和一個渦輪泵使之成為一個真正獨立的掃描電子顯微鏡,不受使用地點限制。...
Andrew Menzies高級應用科學家Stephan Boehm產品經理關于布魯克納米分析布魯克的電子顯微鏡分析儀包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微區XRF,它們為目前可用的材料提供了最全面的成分和結構分析。同時提供微區X射線熒光光譜儀(Micro-XRF)以及用于微量元素分析的臺式全反射X射線熒光光譜儀 (TXRF)。...
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