IEC 60749-9:2017
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第9部分:標記的永久性
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
- 標準號
- IEC 60749-9:2017
- 發布
- 2017年
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60749-9:2017
- 被代替標準
- IEC 47/2348/FDIS:2016 IEC 60749-9:2002 IEC 60749-9 CORR 1:2003
- 適用范圍
- IEC 60749 這一部分的目的是確定固態半導體器件上的標記在施加和去除標簽或使用在去除助焊劑殘留物過程中常用的溶劑和清潔溶液時是否仍保持清晰。印刷電路板制造過程。該測試適用于所有封裝類型。它適用于資格和/或過程監控測試。該測試被認為是非破壞性的。電氣或機械廢品可用于此測試。注 1：此程序不適用于激光品牌封裝。許多可用的溶劑要么活性不夠，要么過于嚴格，甚至在直接接觸或吸入煙霧時對人體有害。注 2：就通常的涂層和標記而言，本文件中使用的溶劑成分被認為是典型的并代表了所需的嚴格性。
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