BS EN 60749-9:2002
半導體器件.機械和氣候試驗方法.永久性標記
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Permanence of marking
2017-11
- 標準號
- BS EN 60749-9:2002
- 發布
- 2002年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 替代標準
- BS EN 60749-9:2017
- 當前最新
- BS EN 60749-9:2017
- 被代替標準
- 00/203566 DC-2000 BS EN 60749:1999
- 適用范圍
- IEC 60749 這一部分的目的是測試和驗證半導體器件上的標記在受到印刷電路板組裝過程中去除助焊劑殘留物過程中常用的溶劑或清潔溶液的影響時不會變得難以辨認。 該測試適用于所有封裝類型。 它適用于資格和/或過程監控測試。 該測試應被視為非破壞性的。 電氣或機械廢品可用于本測試的目的。 一般來說，該標記持久性測試符合 IEC 60068-2-45，但由于半導體的特殊要求，該標準的條款適用。
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