IEC 60749-9:2017
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第9部分:標記的永久性
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking
- 標準號
- IEC 60749-9:2017
- 發布
- 2017年
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60749-9:2017
- 被代替標準
- IEC 47/2348/FDIS:2016 IEC 60749-9:2002 IEC 60749-9 CORR 1:2003
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