GB/T 32282-2015
氮化鎵單晶位錯密度的測量 陰極熒光顯微鏡法
Measurement of Dislocation Density in Gallium Nitride Single Crystal by Cathodoluminescence Microscopy
GBT32282-2015, GB32282-2015
GB/T 32282-2015 發布歷史
GB/T 32282-2015由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2016-11-01，并于 2016-11-01 實施。
GB/T 32282-2015 發布之時，引用了標準
- GB/T 14264 半導體材料術語
- GB/T 1554 硅晶體完整性化學擇優腐蝕檢驗方法
- GB/T 27788 微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則*， 2020-06-02 更新
* 在 GB/T 32282-2015 發布之后有更新，請注意新發布標準的變化。
GB/T 32282-2015的歷代版本如下：
- 2016年 GB/T 32282-2015 氮化鎵單晶位錯密度的測量 陰極熒光顯微鏡法
- 標準號
- GB/T 32282-2015
- 別名
- GBT32282-2015
GB32282-2015 - 發布
- 2016年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 32282-2015
- 引用標準
- GB/T 14264 GB/T 1554 GB/T 27788
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