GB/T 32282-2015
氮化鎵單晶位錯密度的測量 陰極熒光顯微鏡法
Measurement of Dislocation Density in Gallium Nitride Single Crystal by Cathodoluminescence Microscopy
GBT32282-2015, GB32282-2015
GB/T 32282-2015 中，可能用到以下儀器
- 標準號
- GB/T 32282-2015
- 別名
- GBT32282-2015
GB32282-2015 - 發布
- 2016年
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 32282-2015
- 引用標準
- GB/T 14264 GB/T 1554 GB/T 27788
GB/T 32282-2015相似標準
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