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SJ/T 11501-2015
碳化硅單晶晶型的測試方法

Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide

SJT11501-2015, SJ11501-2015

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標準號: SJ/T 11501-2015
別名: SJT11501-2015, SJ11501-2015
發布: 2015年
發布單位: 行業標準-電子
當前最新: SJ/T 11501-2015

代替標準: GOST 21139-1975

適用范圍: 本標準規定了利用拉曼光譜測定碳化硅單晶結晶類型的方法。本標準適用于碳化硅單晶晶型的測定。

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SJ/T 11501-2015 中可能用到的儀器設備

拉曼光譜儀掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM 光柵光譜儀(單色儀) 光纖光譜儀碳硅分析儀其它光學測量儀高光譜儀/高光譜成像儀分子熒光光譜/熒光分光光度計光譜部件及外設光源/氙燈光源/汞燈光源其它物性測試儀器

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