SJ/T 11501-2015
碳化硅單晶晶型的測試方法

Test method for determining crystal type of monocrystalline silicon carbide

SJ/T 11501-2015 發布歷史

本標準規定了利用拉曼光譜測定碳化硅單晶結晶類型的方法。本標準適用于碳化硅單晶晶型的測定。

SJ/T 11501-2015由行業標準-電子 CN-SJ 發布于 2015-04-30，并于 2015-10-01 實施。

SJ/T 11501-2015 在中國標準分類中歸屬于: H83 化合物半導體材料，在國際標準分類中歸屬于: 29.045 半導體材料。

SJ/T 11501-2015的歷代版本如下：

• 2015年04月30日 SJ/T 11501-2015 碳化硅單晶晶型的測試方法

標準號

SJ/T 11501-2015

發布日期

2015年04月30日

實施日期

2015年10月01日

廢止日期

無

中國標準分類號

H83

國際標準分類號

29.045

發布單位

CN-SJ

代替標準

GOST 21139-1975

適用范圍

本標準規定了利用拉曼光譜測定碳化硅單晶結晶類型的方法。本標準適用于碳化硅單晶晶型的測定。

SJ/T 11501-2015 中可能用到的儀器設備