BS EN 62149-8:2014
纖維光學有源元件和器件. 性能標準. 晶種反射半導體光學放大器設備
Fibre optic active components and devices. Performance standards. Seeded reflective semiconductor optical amplifier devices
- 標準號
- BS EN 62149-8:2014
- 發布
- 2014年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS EN 62149-8:2014
- 引用標準
- EN 60191 EN 60747-5-1 EN 60749 EN 60749-10 EN 60749-11 EN 60749-12 EN 60749-25 EN 60749-26 EN 60749-6 EN 60749-7 EN 60825 EN 60825-1 EN 60874 EN 60950-1 EN 61290-1-3 EN 61300-2-19 EN 61300-2-4 EN 61300-2-48 EN 62007-1 EN 62007-2 IEC 60191 IEC 60747-5-1 IEC 60749 IEC 60749-10 IEC 60749-11 IEC 60749-12 IEC 60749-25 IEC 60749-26 IEC 60749-6 IEC 60749-7 IEC 60825 IEC 60825-1 IEC 60874 IEC 60950-1 IEC 61290-1-3 IEC 61300-2-19 IEC 61300-2-4 IEC 61300-2-48 IEC 62007-1 IEC 62007-2 IEC 6214 IEC Guide 107
BS EN 62149-8:2014相似標準
推薦
廢止《光學纖維面板測試方法》等265項國家標準
國家市場監督管理總局 國家標準化管理委員會 2023-12-28廢止國家標準部分名單序號標準號標準名稱復審結論標準廢止過渡期1GB/T 11447-1989光學纖維面板測試方法廢止公告后3個月廢止2GB/T 18311.31-2007纖維光學互連器件和無源器件 基本試驗和測量程序 ?第3-31部分：檢查和測量 纖維光學光源耦合功率比測量廢止公告后3個月廢止3GB/T 18310.3-2001纖維光學互連器件和無源器件...
助力晶圓生產工藝改進，海洋光學參加2022中國半導體設備年會
晶圓膜厚測量系統配置QE Pro是一種高靈敏度性能出色的光譜儀，適合低光度應用。QE Pro薄型背照式CCD探測器具有較高的量子效率，其穩健的設計使其具有很高的信噪比性能和穩定性。可通過選擇內部快門，優化對暗噪聲的測量。解決問題是海洋光學的使命。海洋光學創始人Mike Morris說，“我們是問題解決者；沒有問題需要解決，就沒有海洋光學。”...
應用推薦|SM200及其系列膜厚儀在薄膜檢測的應用
某晶振行業采用我們的儀器進行的膜厚進行測試，得到了良好結果。(2)膜厚儀在二氧化硅測量的應用二氧化硅薄膜以其優異的性能在半導體、微波、光電子、光學器件以及薄膜傳感器等領域獲得了廣泛的應用，因此非常有必要對其膜厚進行監測和控制。測試結果(3)膜厚儀在派瑞林涂層上的應用派瑞林涂層廣泛的應用于PCB板及相關的電子器件涂層。其有優異的電絕緣性和防護性，是當代最有效的防潮、防霉、防腐、防鹽霧涂層材料。...
段曦東段鑲鋒二維電子器件最新Nature子刊
工業化的應用對二維半導體的大規模制備及其性能也有了更高的要求，傳統的光刻和金屬化工藝也可以實現二維晶體管（FET）的晶圓集成，但是設備的差異性所引起的性能的差異性，有可能導致電子器件性能的數量級的降低，迫使人們尋求新的解決方法。...