IEC 60749-11:2002/COR2:2003
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第11部分:溫度的急速變化.雙液電鍍槽法
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2
- 標準號
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- 發布
- 2003年
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60749-11:2002/COR2:2003
- 適用范圍
- 本標準是半導體器件機械和氣候試驗方法第11部分：溫度快速變化；二液浴法；勘誤2.
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