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IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第11部分:溫度的急速變化.雙液電鍍槽法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2

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標準號: IEC 60749-11 Corrigendum 2-2003
發布日期: 2003年08月
實施日期
廢止日期: 無
中國標準分類號: L40
國際標準分類號: 31.080.01
發布單位: IX-IEC

適用范圍: This standard is Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 11: Rapid change of temperature; Two-fluid-bath method; Corrigendum 2.

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