半導體器件 第16-5部分:微波集成電路 振蕩器2023/9/72024/1/121GB/T 15651.6-2023半導體器件 第5-6部分:光電子器件 發光二極管2023/9/72024/4/122GB/T 4937.42-2023半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分:溫濕度貯存2023/5/232023/12/123GB/T 4937.23-2023半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23...
3 半導體集成電路典型篩選程序 高溫儲存— 溫度循環— ( 跌落) — 離心— 高溫功率老煉— 高溫測試— 低溫測試— 檢漏— 外觀檢查— 常溫測試。 ( 1 ) 高溫儲存: 8 5 ~1 7 5 ℃, 9 6小時。 ( 2 ) 離心:20000 g , 1 分鐘 ( 3 ) 高溫功率老煉: 8 5℃, 9 6 小時,在額定電壓、額定負載下動態老煉。 ...
一提起環境試驗箱,先了解一下“環境”與“試驗箱”,“環境”由許多環境條件組成,指待測樣品在特定時間內所經受的外部條件總和,可以是機械的、氣候的、生物的,以及由于化學活性物質和機械活性物質產生的其他效應。 “試驗箱”的定義是“能夠達到規定的試驗條件的某部分封閉體或空間”,來模擬所需要測試的環境因素參數及其相應的嚴酷程度。...
高溫測試是用來確定產品在高溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續時間。常見的高溫測試標準主要有GB國標、ASTM、IEC等,適用的產品種類非常多。高溫測試是模擬產品在貯存、裝配和使用過程中的耐高溫狀況而進行的可靠性試驗,高溫試驗也是最長用的加速壽命測試。...
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