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  • IEC 60749-6:2017
    半導體器件.機械和氣候試驗方法.第6部分:高溫下儲存

    Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature


    標準號
    IEC 60749-6:2017
    發布
    2017年
    發布單位
    國際電工委員會
    當前最新
    IEC 60749-6:2017
     
     
    被代替標準
    IEC 47/2347/FDIS:2016 IEC 60749-6:2002 IEC 60749-6 CORR 1:2003
    適用范圍
    IEC 60749 這部分的目的是測試和確定在不施加電應力的情況下在高溫下存儲的所有固態電子設備的影響。該測試通常用于確定存儲條件下時間和溫度對固態電子設備(包括非易失性存儲設備(數據保留故障機制))的熱激活故障方法和故障時間的影響。該測試被認為是非破壞性的,但最好用于設備鑒定。如果使用此類設備進行輸送,則需要評估這種高度加速的壓力測試的效果。使用阿倫尼烏斯加速方程對熱激活故障機制進行建模,有關測試溫度和持續時間選擇的指南可在 IEC 60749-43 中找到。

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