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本標準規定了硅拋光氧化繡生缺陷的檢驗方法。 本標準適用于硅拋光片表面區在模擬器件氧化工藝中繡生或增強的晶體缺陷的檢測。 硅單晶氧化繡生缺陷的檢驗也可參照此方法。
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