IEC 60749 這部分的目的是測試和確定在不施加電應力的情況下在高溫下存儲對所有半導體電子器件的影響。該測試被認為是非破壞性的,但最好用于設備鑒定。如果使用此類設備進行輸送,則需要評估這種高度加速的壓力測試的效果。一般來說,高溫儲存測試符合IEC 60068-2-48,但由于半導體的特殊要求,適用本標準的條款。
Copyright ?2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號
頁面更新時間: 2024-12-25 15:31