DIN 50435:1988
半導體材料試驗:采用四探針/直流法測量硅片和鍺片電阻率的徑向變化
Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method
DIN 50435:1988 中，可能用到以下儀器
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- 標準號
- DIN 50435:1988
- 發布
- 1988年
- 發布單位
- 德國標準化學會
- 當前最新
- DIN 50435:1988