DIN 50435-1988
半導體材料試驗:采用四探針/直流法測量硅片和鍺片電阻率的徑向變化
Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method
DIN 50435-1988 發布歷史
DIN 50435-1988由德國標準化學會 DE-DIN 發布于 1988-05。
DIN 50435-1988 在中國標準分類中歸屬于: H82 元素半導體材料，在國際標準分類中歸屬于: 29.045 半導體材料。
DIN 50435-1988的歷代版本如下：
- 1988年05月 DIN 50435-1988 半導體材料試驗:采用四探針/直流法測量硅片和鍺片電阻率的徑向變化
