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  • GB/T 30656-2023
    碳化硅單晶拋光片

    Silicon carbide single crystal polished wafer

    GBT30656-2023, GB30656-2023


    標準號
    GB/T 30656-2023
    別名
    GBT30656-2023, GB30656-2023
    發布
    2023年
    總頁數
    16頁
    發布單位
    國家質檢總局
    當前最新
    GB/T 30656-2023
     
     
    被代替標準
    GB/T 30656-2014
    適用范圍
    本附錄規定了碳化硅單晶拋光片多型的測試方法,包括裸眼法和拉曼散射法。
    碳化硅單晶拋光片
    Carbon Silicon Carbide Single Crystal Polishing Wafer
    一種經過拋光處理的碳化硅單晶材料,用于測試其多型結構。
    拉曼光譜測試儀
    Raman Spectroscopy Tester
    用于通過拉曼散射效應檢測物質晶體結構的儀器。

    GB/T 30656-2023 中提到的儀器設備

    拉曼光譜測試儀 用于碳化硅單晶拋光片多型檢測的專用設備。

    專題


    GB/T 30656-2023相似標準


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