xrd 織構分析

更新時間： 2024-05-20 14:10:09

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通過XRD測織構的數據分析試樣的殘余應力和位錯密度

Q:在一篇博士論文里看到可以通過XRD測織構的數據來分析試樣的殘余應力和位錯密度，如何分析呢？A:XRD測位錯密度，可以近似的取半波寬來確定。其實只是個比較的測量方法，也就是說，你可以通過不同材料或者不同處理制度得到的XRD峰值半波寬來比較

普通XRD基本檢測項目有哪些

常規掃描可以知道晶體的物相，用高溫附件可知道在溫度變化情況下的物相變化。小角衍射可知道粘土等層狀材料的層間距，掠入射模式可測得納米薄膜材料厚度，還有些特殊工具可測晶體的殘余應力、織構信息等。通過對XRD結果分析，還可以測得晶體摻雜情況、物相

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普通XRD基本檢測項目有哪些 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別 XRD與EDS有什么區別實驗室光學儀器--XRD的用途 X射線衍射儀使用中的常見問題故障排除 X射線衍射儀原理 X射線衍射儀工作原理

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SuperNova微焦斑單晶衍射儀

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安捷倫 / agilent, SuperNova系統緊湊，操作方便，穩定性高，維護簡單，使用戶可以將全部精力集中于課題研究。

布魯克, 布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創造性的達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術，使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！