更新時間: 2024-06-07 15:19:04
XRD全稱X射線衍射(X-RayDiffraction),利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征,經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相,并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷(位錯)和晶格缺
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