半導體材料紫外分析
本專題涉及半導體材料紫外分析的標準有41條。
國際標準分類中，半導體材料紫外分析涉及到半導體材料、光學和光學測量、電子元器件綜合、陶瓷、絕緣流體、分析化學、電阻器、試驗條件和規程綜合、電子電信設備用機電元件、切削工具、整流器、轉換器、穩壓電源。
在中國標準分類中，半導體材料紫外分析涉及到半金屬與半導體材料綜合、無機化工原料綜合、電子技術專用材料、半金屬及半導體材料分析方法、、特種陶瓷、電化學、熱化學、光學式分析儀器、基礎標準與通用方法、電子工業生產設備綜合、電力半導體器件、部件。
行業標準-電子，關于半導體材料紫外分析的標準
- SJ 20744-1999 半導體材料雜質含量紅外吸收光譜分析通用導則
- SJ/Z 3206.13-1989 半導體材料發射光譜分析方法通則
- SJ/T 11818.2-2022 半導體紫外發射二極管 第2部分：芯片規范
- SJ/T 11818.3-2022 半導體紫外發射二極管 第3部分：器件規范
- SJ/T 11818.1-2022 半導體紫外發射二極管 第1部分：測試方法
- SJ/T 11067-1996 紅外探測材料中半導體光電材料和熱釋電材料常用名詞術語
- SJ/T 11775-2021 半導體材料多線切割機
法國標準化協會，關于半導體材料紫外分析的標準
- NF ISO 10677:2011 技術陶瓷 用于測試半導體光催化材料的紫外光源
- NF B44-103*NF ISO 10677:2011 細瓷（高級陶瓷、高級工業陶瓷）測試半導體光催化材料所用的紫外光源
國家質檢總局，關于半導體材料紫外分析的標準
- GB/T 37131-2018 納米技術 半導體納米粉體材料紫外-可見漫反射光譜的測試方法
- GB/T 37131-2018(英文版) 納米技術 半導體納米粉體材料紫外-可見漫反射光譜的測試方法
- GB/T 37131-2018e 納米技術 半導體納米粉體材料紫外-可見漫反射光譜的測試方法
- GB/T 4298-1984 半導體硅材料中雜質元素的活化分析方法
- GB/T 14264-2009 半導體材料術語
- GB/T 14264-1993 半導體材料術語
- GB/T 14264-2024 半導體材料術語
- GB/T 31469-2015 半導體材料切削液
- GB/T 13971-2013 紫外線氣體分析器技術條件
- GB/T 13971-1992 紫外線氣體分析器技術條件
- GB/T 36646-2018 制備氮化物半導體材料用氫化物氣相外延設備
- GB/T 14844-2018 半導體材料牌號表示方法
- GB/T 14844-1993 半導體材料牌號表示方法
韓國科技標準局，關于半導體材料紫外分析的標準
- KS L ISO 10677-2023 精細陶瓷（高級陶瓷、高級工藝陶瓷）半導體光催化材料測試用紫外光源
中國團體標準，關于半導體材料紫外分析的標準
- T/CNIA 0143-2022 半導體材料痕量雜質分析用超純樹脂器皿
- T/ZSA 291-2024 窗口材料用紫外級氟化鎂晶體
- T/CASME 798-2023 半導體材料專用加工刀具
英國標準學會，關于半導體材料紫外分析的標準
- BS ISO 10677:2011 精細陶瓷(高級陶瓷,高級技術陶瓷).半導體光催化材料測試用紫外光源
- 09/30186157 DC BS ISO 10677 精細陶瓷（高級陶瓷、先進技術陶瓷） 用于測試半導體光催化材料的紫外光源
- BS IEC 62899-203:2024 印刷電子 材料 半導體油墨
阿曼規格和計量局，關于半導體材料紫外分析的標準
- OS GSO ISO 10677:2015 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷） 測試半導體光催化材料的紫外光源
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于半導體材料紫外分析的標準
- GSO ISO 10677:2015 微陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷） 用于測試光催化半導體材料的紫外光源
美國給水工程協會，關于半導體材料紫外分析的標準
- AWWA WQTC62577 使用紫外線消毒指導手冊分析紫外線反應器驗證數據以驗證紫外線劑量輸送
國際電工委員會，關于半導體材料紫外分析的標準
- IEC 62899-203:2024 IEC 62899 第203部分：材料 半導體墨水
國際標準化組織，關于半導體材料紫外分析的標準
- ISO 10677:2011 精細陶瓷(高級陶瓷,高級工業陶瓷).檢測半導光催化材料用紫外線源
RO-ASRO，關于半導體材料紫外分析的標準
- STAS 6360-1974 半導體材料和設備．術語
匈牙利標準化委員會，關于半導體材料紫外分析的標準
- MSZ 771/5-1979 半導體材料的力學性能
德國標準化學會，關于半導體材料紫外分析的標準
- DIN 50449-2:1998 半導體工藝材料試驗.通過紅外線吸收測定半導體中雜質含量.第2部分:砷化鎵中的硼
- DIN 50449-1:1997-07 半導體技術用材料的試驗 通過紅外吸收測定半導體中雜質含量 第1部分：砷化鎵中的碳
印度尼西亞標準，關于半導體材料紫外分析的標準
- SNI 19-0429-1989 液體與半固體材料抽樣指導
美國材料與試驗協會，關于半導體材料紫外分析的標準
- ASTM F42-02 半導體材料導電類型試驗方法
行業標準-機械，關于半導體材料紫外分析的標準
- JB/T 8175-1999 電力半導體器件用型材散熱體.外形尺寸
