x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜
本專題涉及x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準有25條。
國際標準分類中，x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜涉及到分析化學、電學、磁學、電和磁的測量、無損檢測、光學和光學測量、電子元器件綜合。
在中國標準分類中，x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜涉及到基礎標準與通用方法、綜合測試系統、化學助劑基礎標準與通用方法、電子光學與其他物理光學儀器、光學測試儀器、標準化、質量管理。
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- GB/T 41064-2021 表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法
國家質檢總局，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- GB/T 31470-2015 俄歇電子能譜與X射線光電子能譜測試中確定檢測信號對應樣品區域的通則
- GB/T 30702-2014 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 實驗測定的相對靈敏度因子在均勻材料定量分析中的使用指南
- GB/T 29556-2013 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
- GB/T 28893-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.測定峰強度的方法和報告結果所需的信息
- GB/T 28632-2012 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
國際標準化組織，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- ISO 17109:2022 表面化學分析.深度剖面.用單層和多層薄膜在X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中測定濺射速率的方法
- ISO 20903:2019 表面化學分析 - 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜 - 用于確定峰值強度的方法和報告結果時所需的信息
- ISO 17109:2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
- ISO/TR 19319:2003 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區域和樣品區域的目視檢測
美國材料與試驗協會，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數據報告的標準實施規程
- ASTM E995-16 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術標準指南
- ASTM E995-11 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應用背景消除技術的標準指南
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報告數據的標準規程
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數據報告的標準規程
英國標準學會，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- BS ISO 17109:2015 表面化學分析. 深度剖析. 使用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜, 俄歇電子能譜以及二次離子質譜法濺射深度剖析中濺射率的方法
日本工業標準調查會，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- JIS K0167-2011 表面化學分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學.勻質材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
法國標準化協會，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- NF X21-058-2006 表面化學分析.俄歇電子能譜學和X射線光電子光譜法.測定峰強度使用的方法和報告結果時需要的信息
，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化學分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜均勻材料定量分析用實驗測定的相對靈敏度因子的使用指南
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
韓國科技標準局，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- KS D ISO 19319:2005 表面化學分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區域和樣品區域的目視檢測
行業標準-電子，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術和X射線光電子能譜術的樣品處理標準導則
澳大利亞標準協會，關于x射線光電子能譜 與 俄歇電子能譜的標準
- AS ISO 18118:2006 表面化學分析．俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法．均質材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數使用指南
