紫外 雙光瀾測試方法
本專題涉及紫外 雙光瀾測試方法的標準有247條。
國際標準分類中，紫外 雙光瀾測試方法涉及到陶瓷、玻璃、無機化學、光學和光學測量、半導體材料、光學設備、光纖通信、電信系統、電燈及有關裝置、消防、環境試驗、危險品防護、塑料、建筑材料、道路車輛裝置、粒度分析、篩分、太陽能工程、涂料配料、制藥學、農業和林業、試驗條件和規程綜合、粘合劑和膠粘產品、紡織工藝、有機化學、信息技術應用、皮革技術、化工產品、紙漿、電信設備用部件和附件、造船和海上構筑物綜合、道路車輛內燃機、光電子學、激光設備、黑色金屬、涂料和清漆、增強塑料、橡膠和塑料制品、建筑構件、航空航天發動機和推進系統、焊接、釬焊和低溫焊、印制電路和印制電路板、電子管。
在中國標準分類中，紫外 雙光瀾測試方法涉及到特種陶瓷、特種玻璃、無機化工原料綜合、光電子器件綜合、工業技術玻璃、儀器、儀表用材料和元件、半金屬與半導體材料綜合、金相檢驗方法、、光通信設備、、陶瓷、玻璃綜合、通信線路設備、、、、、、、太陽能、元素半導體材料、數據媒體、皮革加工與制品綜合、日用玻璃、陶瓷、搪瓷、塑料制品綜合、通信網設備互通技術要求和通信網接口、火工產品、通信網綜合、郵政機械設備、標準化、質量管理、合成樹脂、塑料、光學計量儀器、數據通信設備、化合物半導體材料、半導體光敏器件、加工工藝綜合、印制電路、半導體發光器件、電子束管。
國家質檢總局，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- GB/T 42265-2022 光催化材料空氣凈化性能測試方法 甲苯的去除
- GB/T 32561.4-2022 紅外光學硫系玻璃測試方法 第4部分：光吸收系數
- GB/T 6495.11-2016 光伏器件 第11部分:晶體硅太陽電池初始光致衰減測試方法
- GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
- GB/T 30706-2014 可見光照射下光催化抗菌材料及制品抗菌性能測試方法及評價
- GB/T 30452-2013 光催化納米材料光解指數測試方法
- GB/T 15489.6-2010 濾光玻璃測試方法 第6部分：熒光特性
- GB/T 7962.9-2010 無色光學玻璃測試方法 第9部分：光吸收系數
- GB/T 24574-2009 硅單晶中Ⅲ-Ⅴ族雜質的光致發光測試方法
- GB/T 24578-2009 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法
- GB/T 23762-2009 光催化材料水溶液體系凈化測試方法
- GB/T 23764-2009 光催化自清潔材料性能測試方法
- GB/T 23761-2009 光催化空氣凈化材料性能測試方法
- GB/T 17169-1997 硅拋光片和外延片表面質量光反射測試方法
- GB/T 15489.6-1995 濾光坡璃測試方法 熒光特性
- GB/T 15489.4-1995 濾光玻璃測試方法 色溫變換能力
- GB/T 15489.2-1995 濾光玻璃測試方法 氣泡度
- GB/T 15489.1-1995 濾光玻璃測試方法 光譜特性
- GB/T 15489.8-1995 濾光玻璃測試方法 耐紫外輻射穩定性
- GB/T 15489.7-1995 濾光玻璃測試方法 化學穩定性
- GB/T 15489.3-1995 濾光玻璃測試方法 截止波長溫度系數
- GB/T 15489.5-1995 濾光玻璃測試方法 色品
- GB/T 9534-1988 毫米波頻段固體電介質材料介電特性測試方法 準光腔法
- GB/T 7962.9-1987 無色光學玻璃測試方法 光吸收系數測試方法
國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- GB/T 41050-2021 納米技術 光催化納米材料降解苯性能測試方法
- GB/T 39716-2020 光催化材料及制品空氣凈化性能測試方法 氮氧化物的去除
- GB/T 38256-2019 多光路光軸平行性測試方法
未注明發布機構，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- GB/T 23761-2020 光催化材料及制品空氣凈化性能測試方法 乙醛（或甲醛）的降解
- GB/T 23761-2020 光催化材料及制品空氣凈化性能測試方法 乙醛（或甲醛）的降解
- GB/T 23762-2020 光催化材料水溶液凈化性能測試方法
工業和信息化部，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- YD/T 4018-2022 基于非接觸式標識的光分配網絡資源管理測試方法
- YD/T 4014-2022 軟件定義光傳送網（SDOTN）測試方法
- YD/T 3287.22-2021 智能光分配網絡 接口測試方法 第22部分：基于Socket的智能光分配網絡設施與智能光分配網絡管理系統的接口
- YD/T 3918-2021 接入網設備測試方法 支持網絡切片的光線路終端（OLT）
- YD/T 2798.2-2020 用于光通信的光收發合一模塊測試方法 第2部分：多波長型
- YD/T 3566-2019 智能光分配網絡 管理系統測試方法
- YD/T 3287.4-2019 智能光分配網絡 接口測試方法 第4部分：智能光分配網絡管理系統與OSS的接口
- YD/T 3599-2019 分組增強型光傳送網（OTN）互通測試方法
- YD/T 3287.3-2018 智能光分配網絡 接口測試方法 第3部分：智能管理終端與智能光分配網絡管理系統的接口
- YD/T 702-2018 PIN-FET光接收組件測試方法
- YD/T 3433-2018 用于OTDR測試的ONU光模塊內置波長選擇性反射器技術要求和測試方法
- YD/T 3422-2018 智能光分配網絡 管理終端測試方法
- YD/T 3404-2018 分組增強型光傳送網設備測試方法
- YD/T 3287.1-2017 智能光分配網絡 接口測試方法 第1部分：智能光分配網絡設施與智能管理終端的接口
- YD/T 3287.21-2017 智能光分配網絡 接口測試方法 第21部分：基于SNMP的智能光分配網絡設施與智能光分配網絡管理系統的接口
- YD/T 1353-2015 光通信用高速光探測器-前置放大器組件技術要求及測試方法
- YD/T 2897-2015 光傳送設備節能參數和測試方法 OTN設備
- YD/T 2898-2015 光傳送設備節能參數和測試方法 PTN設備
- YD/T 2798.1-2015 用于光通信的光收發合一模塊測試方法 第1部分：單波長型
中國團體標準，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- T/CSA 071-2022 光醫療設備中柔性光源性能測試方法
- T/GDCKCJH 027-2020 稀土摻雜激光玻璃光吸收和熒光特性測試方法
- T/BSPT 003-2020 粉體技術 光散射原理細顆粒物（PM2.5）質量濃度測量儀性能測試方法
- T/IAWBS 012-2019 碳化硅單晶拋光片表面質量和微管密度測試方法 ——共焦點微分干涉光學法
- T/CBMF 72-2019 光催化材料及制品空氣凈化性能測試方法氮氧化物的去除
- T/CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏組件光致衰減測試方法
- T/CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏組件光致衰減測試方法
- T/CSP T/BSPT003-2018 光散射原理細顆粒物（PM2.5）質量濃度測量儀性能測試方法
海關總署，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- SN/T 5315-2021 光催化自潔陶瓷性能測試方法 熒光探針法
國際標準化組織，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- ISO 22197-5:2021 精細陶瓷（高級陶瓷 高級技術陶瓷） - 半導體光催化材料的空氣純化性能測試方法 - 第5部分:去除甲硫醇
- ISO 22197-4:2021 精細陶瓷（高級陶瓷 高級技術陶瓷） - 半導體光催化材料的空氣凈化性能測試方法 - 第4部分:去除甲醛
- ISO 21111-4-2020 道路車輛 - 車內以太網 - 第4部分:光千兆以太網組件的一般要求和測試方法
- ISO 787-15-2019 顏料和擴展劑的一般測試方法 - 第15部分:與類似顏色的著色顏料的光的耐光性的比較
- ISO 17168-2:2018 陶瓷-室內光環境中反圣光催化劑材料的空氣凈化性能測試方法-第二部分:去除乙酰醛
- ISO/IEC 10373-5-2014 識別卡. 測試方法. 第5部分: 光存儲卡
- ISO/IEC 10373-9:2011 身份證——測試方法第9部分:光存儲卡——全息記錄法
- ISO 10676-2010 精細陶瓷(高級陶瓷,高級工藝陶瓷).利用活性氧形成能力測定半導體光催化材料的水凈化性能的測試方法
- ISO/TR 26369:2009 化妝品和化妝品；防曬測試方法——防曬產品光防護評估方法的回顧與評價
- ISO 27447-2009 精細陶瓷.(高級陶瓷,高級工業陶瓷).半導體光催化材料的抗菌活性用測試方法
- ISO/IEC 10373-5-2006 識別卡.測試方法.第5部分:光存儲卡
- ISO/IEC 10373-5-1998 識別卡 測試方法 第5部分:光存儲卡
美國材料與試驗協會，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- ASTM E662-21a 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM F1515-21 通過顏色變化測量彈性地板的光穩定性的標準測試方法
- ASTM E662-21 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM B822-20 金屬粉末和相關化合物通過光散射的粒度分布的標準測試方法
- ASTM D4001-20 通過光散射測定聚合物的重均分子量的標準測試方法
- ASTM C609-20 用于測量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標準測試方法
- ASTM E662-19 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM C609-07(2019) 用于測量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標準測試方法
- ASTM C978-04(2019) 使用偏光顯微鏡和光學延遲補償程序對透明玻璃基體中的殘余應力進行光彈性測定的標準測試方法
- ASTM E662-18 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM F2602-18 用多角度光散射檢測（SEC-MALS）通過尺寸排阻色譜法測定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質量的標準測試方法
- ASTM D6567-18 用于測量軋制侵蝕控制產品（RECP）的光穿透性的標準測試方法
- ASTM D6567-17 用于測量軋制侵蝕控制產品（RECP）的光穿透性的標準測試方法
- ASTM E662-17a 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM B822-17 金屬粉末和相關化合物通過光散射的粒度分布的標準測試方法
- ASTM E662-17 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E1458-12(2016) 使用光掩模網的激光衍射粒度測量儀的校準驗證標準測試方法
- ASTM D3658-01(2016) 用于確定紫外線（UV）光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強度的標準測試方法
- ASTM F1515-15 通過顏色變化測量彈性地板的光穩定性的標準測試方法
- ASTM E662-15a 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-15 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM D4093-95(2014) 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應變光彈性測量的標準測試方法
- ASTM E662-14 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM C978-04(2014) 使用偏光顯微鏡和光學延遲補償程序對透明玻璃基體中的殘余應力進行光彈性測定的標準測試方法
- ASTM C609-07(2014) 用于測量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標準測試方法
- ASTM D4001-13 通過光散射測定聚合物的重均分子量的標準測試方法
- ASTM E662-13d 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM F2602-13 用多角度光散射檢測（SEC-MALS）通過尺寸排阻色譜法測定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質量的標準測試方法
- ASTM E662-13c 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-13b 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-13a 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-13 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-12a 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E1458-12 使用光掩模網的激光衍射粒度測量儀的校準驗證標準測試方法
- ASTM E662-12 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM D4093-95(2010) 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應變光彈性測量的標準測試方法
- ASTM B822-10 金屬粉末和相關化合物通過光散射的粒度分布的標準測試方法
- ASTM C978-04(2009) 使用偏光顯微鏡和光學延遲補償程序對透明玻璃基體中的殘余應力進行光彈性測定的標準測試方法
- ASTM E662-09 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM F1515-03(2008) 通過顏色變化測量彈性地板的光穩定性的標準測試方法
- ASTM D3658-01(2008) 用于確定紫外線（UV）光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強度的標準測試方法
- ASTM F2602-08 用多角度光散射檢測（SEC-MALS）通過尺寸排阻色譜法測定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質量的標準測試方法
- ASTM F2602-08e1 用多角度光散射檢測（SEC-MALS）通過尺寸排阻色譜法測定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質量的標準測試方法
- ASTM C609-07 用于測量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標準測試方法
- ASTM E662-06 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-06e1 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM D6567-00(2006) 用于測量草皮加強墊的光穿透的標準測試方法
- ASTM D4001-93(2006) 通過光散射測定聚合物的重均分子量的標準測試方法
- ASTM E662-05 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM D4093-95(2005)e1 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應變光彈性測量的標準測試方法
- ASTM C978-04 使用偏光顯微鏡和光學延遲補償程序對透明玻璃基體中的殘余應力進行光彈性測定的標準測試方法
- ASTM E662-03 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-03e1 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-03e2 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM C978-87(1996) 使用偏光顯微鏡和光學延遲補償程序對透明玻璃基體中的殘余應力進行光彈性測定的標準測試方法
- ASTM C978-02 使用偏光顯微鏡和光學延遲補償程序對透明玻璃基體中的殘余應力進行光彈性測定的標準測試方法
- ASTM B822-02 金屬粉末和相關化合物通過光散射的粒度分布的標準測試方法
- ASTM B822-97 金屬粉末和相關化合物通過光散射的粒度分布的標準測試方法
- ASTM E662-97 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-01 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM D3658-01 用于確定紫外線（UV）光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強度的標準測試方法
- ASTM D3658-90(1995) 用于確定紫外線（UV）光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強度的標準測試方法
- ASTM E1458-92 使用光掩模網的激光衍射粒度測量儀的校準驗證標準測試方法
- ASTM D4093-95(2001)e1 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應變光彈性測量的標準測試方法
- ASTM D4093-95 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應變光彈性測量的標準測試方法
- ASTM D6567-00 用于測量草皮加強墊的光穿透的標準測試方法
- ASTM D4001-93(1999) 通過光散射測定聚合物的重均分子量的標準測試方法
- ASTM E485-94(1999)e1 通過點到平面技術對高爐鐵的光發射真空光譜分析的標準測試方法
- ASTM D1494-1997 增強塑料板的散射光透射系數的標準測試方法
- ASTM D1494-1997(2001)e1 增強塑料板的散射光透射系數的標準測試方法
- ASTM D1494-1997(2001) 增強塑料板的散射光透射系數的標準測試方法
- ASTM E1260-1995 用光學無圖信號光散射儀確定噴射時液滴尺寸特性的測試方法
- ASTM E662-2017 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
- ASTM E662-2019 由固體材料產生的煙霧的特定光密度的標準測試方法
國際電工委員會，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- IEC 61290-1-3:2021 光放大器 - 測試方法 - 第1-3部分:功率和增益參數 - 光功率計方法
- IEC 61290-1-1-2020 光放大器 - 測試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數 - 光譜分析儀方法
- IEC 61290-1-1:2020 光放大器 - 測試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數 - 光譜分析儀方法
- IEC 61290-4-1:2016 光放大器 - 測試方法 - 第4-1部分:增益瞬態參數 - 雙波長方法
- IEC 61290-4-1-2016 光放大器 - 測試方法 - 第4-1部分:增益瞬態參數 - 雙波長方法
- IEC 61290-1-1:2015 光放大器 - 測試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數 - 光譜分析儀方法
- IEC 61290-1-3:2015 光放大器 - 測試方法 - 第1-3部分:功率和增益參數 - 光功率計方法
- IEC 61290-1:2014 光放大器 - 測試方法 - 第1部分:功率和增益參數
- IEC 61290-10-5:2014 光放大器 - 測試方法 - 第10-5部分:多通道參數 - 分布式拉曼放大器增益和噪聲系數
- IEC 61290-3-3:2013 光放大器 - 測試方法 - 第3-3部分:噪聲系數參數 - 信號功率達到總功率比
- IEC 61290-4-1:2011 光放大器 - 測試方法 - 第4-1部分:增益瞬態參數 - 雙波長方法
- IEC 61290-4-2:2011 光放大器 - 測試方法 - 第4-2部分:增益瞬態參數 - 寬帶源法
- IEC 61290-10-1:2009 光放大器 - 測試方法 - 第10-1部分:多通道參數 - 使用光開關和光譜分析儀的脈沖方法
- IEC 61290-3:2008 光放大器 - 測試方法 - 第3部分:噪聲系數參數
- IEC 61290-3-2:2008 光放大器 - 測試方法 - 第3-2部分:噪聲系數參數 - 電譜分析儀方法
- IEC 61290-11-1:2008 光放大器 - 測試方法 - 第11-1部分:極化模式色散參數 - 瓊斯矩陣特征分析（jme）
- IEC 61290-10-2:2007 光放大器 - 測試方法 - 第10-2部分:多通道參數 - 使用門控光譜分析儀的脈沖方法
- IEC 61290-7-1:2007 光放大器 - 測試方法 - 第7-1部分:帶外插入損耗 - 濾光光功率計方法
- IEC 61290-1-1:2006 光放大器 - 測試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數 - 光譜分析儀方法
- IEC 61290-5-1:2006 光放大器 - 測試方法 - 第5-1部分:反射參數 - 光譜分析儀方法
- IEC 61290-1-2:2005 光放大器 - 測試方法 - 第1-2部分:功率和增益參數 - 電氣頻譜分析儀方法
- IEC 61290-1-3:2005 光放大器 - 測試方法 - 第1-3部分:功率和增益參數 - 光功率計方法
- IEC 61290-11-2:2005 光放大器 - 測試方法 - 第11-2部分:極化模式色散參數 - 龐加萊球分析方法
- IEC 61290-5-2:2003 光放大器 - 測試方法 - 第5-2部分:反射參數 - 電譜分析儀方法
- IEC 61290-3-1:2003 光放大器 - 測試方法 - 第3-1部分:噪聲系數參數 - 光譜分析儀方法
- IEC 61290-5-3:2002 光放大器測試方法基本規范 - 第5-3部分:反射率參數測試方法 - 使用電譜分析儀的反射率公差測試方法
，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- STAS 6926/18-1970 機動車．測試方法．光核對印鑒法和信號設備
行業標準-郵電通信，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- YD/T 1351-2018 粗波分復用光收發合一模塊技術要求和測試方法
- YD/T 2899-2015 光傳送設備節能參數和測試方法MSTP設備
- YD/T 2489-2013 可重構的光分插復用（ROADM)設備測試方法
- YD/T 2148-2010 光傳送網（OTN）測試方法
- YD/T 2006-2009 光通道功率可調合波器技術要求和測試方法
- YD/T 1812.2-2009 10Gbit/s同軸連接型光發射組件(TOSA)和同軸連接型光接收組件(ROSA)技術要求和測試方法.第2部分:10Gbit/s有制冷TOSA
- YD/T 1812.1-2008 10 Gbit/s同軸連接型光發射組件(TOSA)和同軸連接型光接收組件(ROSA)技術要求及測試方法 第1部分：10 Gbit/s無制冷 TOSA
- YD/T 1812.3-2008 10 Gbit/s同軸連接型光發射組件(TOSA)和同軸連接型光接收組件(ROSA)技術要求及測試方法 第3部分：10Gbit/s ROSA
- YD/T 1689-2007 機械式光開關技術要求和測試方法
- YD/T 1351-2005 粗波分復用光收發合一模塊技術要求和測試方法
- YD/T 1353-2005 光通信用高速光探測器——前置放大器 組件技術要求及測試方法
- YD/T 1354-2005 光梳狀分波器技術要求及測試方法
- YD/T 1339-2005 城市光傳送網波分復用（WDM）環網測試方法
- YD/T 702-1993 PIN/FET 光接收組件測試方法
日本工業標準調查會，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- JIS R1701-1-2016 精細陶瓷(高級陶瓷、高級工業陶瓷).光催化材料的空氣凈化性能測試方法.第1部分:氧化氮的清除
- JIS R1701-1-2010 精細陶瓷(高級陶瓷、高級工業陶瓷).光催化材料的空氣凈化性能測試方法.第1部分:氧化氮的清除
國家軍用標準-總裝備部，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- GJB 8539-2015 結構光視覺測量系統標定與精度測試方法
行業標準-電子，關于紫外 雙光瀾測試方法的標準
- SJ/T 11494-2015 硅單晶中III-V族雜質的光致發光測試方法
- SJ 3246-1989 鋁鎵砷(AlxGa1-x As)材料中鋁組分的光熒光測試方法
- SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光電二極管列陣串光因子的測試方法
- SJ 2215.12-1982 半導體光耦合器入出間隔離電容的測試方法
- SJ 2215.8-1982 半導體光耦合器輸出飽和壓降的測試方法
- SJ 2215.13-1982 半導體光耦合器入出間絕緣電阻的測試方法
- SJ 2215.6-1982 半導體光耦合器（二極管）結電容的測試方法
- SJ 2215.1-1982 半導體光耦合器測試方法總則
- SJ 2215.7-1982 半導體光耦合器集電極-發射極反向擊穿電壓的測試方法
- SJ 2215.2-1982 半導體光耦合器（二極管）正向壓降的測試方法
- SJ 2215.5-1982 半導體光耦合器（二極管）反向擊穿電壓的測試方法
- SJ 2215.9-1982 半導體光耦合器（三極管）反向截止電流的測試方法
- SJ 2215.4-1982 半導體光耦合器（二極管）反向電流的測試方法
- SJ 2215.11-1982 半導體光耦合器脈沖、上升、下降、延遲、貯存時間的測試方法
- SJ 2215.10-1982 半導體光耦合器直流電流傳輸比的測試方法
- SJ 2215.3-1982 半導體光耦合器（二極管）正向電流的測試方法
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