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ISO 3497:1990
金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法

Metallic coatings; measurement of coating thickness; X-ray spectrometric methods

作廢

ISO 3497:1990 中，可能用到以下儀器設備

日本日立FT110XRF螢光鍍層厚度測量儀

河北大宏實驗儀器有限公司

Compact eco德國Roentgenanalytik-X射線鍍層測厚儀

牛津儀器（上海）有限公司

Thick 800A鍍層測厚儀

江蘇天瑞儀器股份有限公司

Thick 8000鍍層測厚儀

江蘇天瑞儀器股份有限公司

大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD

布魯克衍射熒光事業部（AXS）

日立FT150鍍層測厚儀

日立分析儀器（上海）有限公司

日立FT100A鍍層測厚儀

日立分析儀器（上海）有限公司

韓國ISP iEDX-150T電鍍鍍層測厚儀

深圳市善時儀器有限公司

韓國ISP鍍層厚度分析儀iEDX-150WT

深圳市善時儀器有限公司

韓國ISP鍍層厚度分析儀iEDX-150AT

深圳市善時儀器有限公司

ISP iEDX-150MT鍍層測厚儀

深圳市善時儀器有限公司

韓國ISP IEDX-150μWT 毛細管方案鍍層測厚儀

深圳市善時儀器有限公司

iEDX-100T鍍層測厚儀

深圳市善時儀器有限公司

大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD

鉑悅儀器（上海）有限公司

標準號: ISO 3497:1990
發布: 1990年
發布單位: 國際標準化組織
替代標準: ISO 3497:2000
當前最新: ISO 3497:2000

其他標準

GB/T 12334-2001 金屬和其他非有機覆蓋層--關于厚度測量的定義和一般規則

專題

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ISO 3497:1990相似標準

DIN EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度測量.X射線光譜測定法 KS D ISO 3497-2002(2022) 金屬鍍層鍍層厚度的測量X射線光譜法 NF A91-116*NF EN ISO 3497:2001 金屬鍍層.鍍層厚度的測定.X射線光譜法 SANS 3497:1990 金屬鍍層．鍍層厚度的測定．X射線光譜測定法 SANS 3497:2008 金屬鍍層.涂層厚度測量.X射線光譜法

ISO 3497:1990 中可能用到的儀器設備

X熒光光譜/XRF（能量色散型X熒光光譜儀） X射線熒光測厚儀

誰引用了ISO 3497:1990 更多引用

ISO 4998:2023 結構質量的連續熱鍍鋅碳鋼板

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