IEC 60749-4:2017
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分:濕熱,穩態,高加速應力試驗
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
- 標準號
- IEC 60749-4:2017
- 發布
- 2017年
- 發布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60749-4:2017
- 引用標準
- IEC 60749-5:2003
- 被代替標準
- IEC 47/2346/FDIS:2016 IEC 60749-4:2002 IEC 60749-4 CORR 1:2003
- 適用范圍
- IEC 60749的這一部分提供了高度加速的溫度和濕度應力測試（HAST），用于評估非氣密封裝半導體器件在潮濕環境中的可靠性。