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IEC 60749-4:2002
半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分:濕熱,穩態,高加速應力試驗

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

被代替

2017-03

標準號: IEC 60749-4:2002
發布: 2002年
總頁數: 24頁
中文版: GB/T 4937.4-2012 (等同采用的中文版本)
發布單位: 國際電工委員會
替代標準: IEC 60749-4:2002/COR1:2003
當前最新: IEC 60749-4:2017

被代替標準: IEC 47/1532A/CDV:2000 IEC 47/1602/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62177:2000

適用范圍: IEC 60749的這一部分提供了高度加速的溫度和濕度應力測試（HAST），用于評估非氣密封裝半導體器件在潮濕環境中的可靠性。

IEC 60749-4:2002相似標準

GB/T 4937.4-2012 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST） GB/T 4937.34-2024 半導體器件機械和氣候試驗方法第34部分：功率循環 GB/T 4937.23-2023 半導體器件機械和氣候試驗方法第23部分：高溫工作壽命 GB/T 4937.27-2023 半導體器件機械和氣候試驗方法第27部分：靜電放電（ESD）敏感度測試機器模型（MM） GB/T 4937.26-2023 半導體器件機械和氣候試驗方法第26部分：靜電放電（ESD）敏感度測試人體模型（HBM）

誰引用了IEC 60749-4:2002 更多引用

BS EN IEC 60749-5:2024 半導體器件機械和氣候試驗方法穩態溫度濕度偏置壽命試驗

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