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  • GB/T 14264-1993
    半導體材料術語

    Semiconductor materials-Terms and definitions

    GBT14264-1993, GB14264-1993

    2010-06

    GB/T 14264-1993 中,可能用到以下儀器設備

     

    梅特勒-托利多 DHS/L系列 管道式金屬檢測機

    梅特勒-托利多 DHS/L系列 管道式金屬檢測機

    梅特勒-托利多中國(Mettler-Toledo)

     

    梅特勒-托利多 ASN9000 金屬檢測機

    梅特勒-托利多 ASN9000 金屬檢測機

    梅特勒-托利多中國(Mettler-Toledo)

     

    梅特勒-托利多 Tablex2 制藥行業金屬檢測機

    梅特勒-托利多 Tablex2 制藥行業金屬檢測機

    梅特勒-托利多中國(Mettler-Toledo)

     

    梅特勒-托利多 R系列金屬檢測機

    梅特勒-托利多 R系列金屬檢測機

    梅特勒-托利多中國(Mettler-Toledo)

     

    梅特勒-托利多 R/T/L/Series 金屬檢測機

    梅特勒-托利多 R/T/L/Series 金屬檢測機

    梅特勒-托利多中國(Mettler-Toledo)

     

    EDX-1050合金分析儀

    EDX-1050合金分析儀

    深圳市善時儀器有限公司

     

    GB/T 14264-1993

    標準號
    GB/T 14264-1993
    別名
    GBT14264-1993
    GB14264-1993
    發布
    1993年
    發布單位
    國家質檢總局
    替代標準
    GB/T 14264-2009
    當前最新
    GB/T 14264-2009
     
     
    本標準規定了半導體材料及其生長工藝、加工、晶體缺陷和表面沾污等方面的主要術語和定義。 本標準適用于元素和化合物半導體材料。

    GB/T 14264-1993相似標準


    GB/T 14264-1993 中可能用到的儀器設備


    誰引用了GB/T 14264-1993 更多引用





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