但任何一種技術在應用中都會存在這樣或那樣的局限性,例如,LEED 及X 射線衍射等衍射方法要求樣品具備周期性結構,光學顯微鏡和SEM 的分辨率不足以分辨出表面原子,高分辨TEM 主要用于薄層樣品的體相和界面研究,FEM 和FIM 只能探測在半徑小于100nm 的針尖上的原子結構和二維幾何性質,且制樣技術復雜,可用來作為樣品的研究對象十分有限;還有一些表面分析技術,如X 射線光電子能譜(ELS)等只能提供空間平均的電子結構信息...
在這一方法中,納米線附著在特定區域并且根據區域的化學性差異在表面進行拉長。暗場電子顯微圖像超長的硅納米線。Nat. Nanotech. 7, 227–231 (2012)圖17?分子中的電荷成像利用開爾文探針顯微鏡(KPFM)可以對表面萘菁分子中的電荷分布進行成像。左圖是電荷分布的實驗觀測圖像,右圖為電場分布的理論計算模擬。Nat....
第4-16部分:不覆銅的預浸料系列分規范 多層印制電路板無鉛裝聯用限定燃燒性(垂直燃燒試驗)的玻璃纖維布增強多功能無鹵環氧粘結片制訂2022/8/138520204659-T-466數字航空攝影測量 控制測量規范制訂2022/8/128620213226-T-469表面化學分析 掃描探針顯微術 用于二維摻雜物成像等用途的電掃描探針顯微鏡(ESPM,如SSRM和SCM)空間分辨的定義和校準制訂2022...
20掃描隧道顯微鏡(STM)基本原理:掃描穿隧顯微術是利用“穿隧效應”的原理,當探針與樣品間距離很小時,在兩者之間加上微小電壓,則電子就會在樣品與探針間形成穿隧電流。掃描隧道顯微鏡有原子量級的高分辨率,其平行和垂直于表面方向的分辨率分別為0.1 nm和0.01nm,即能夠分辨出單個原子,因此可直接觀察晶體表面的近原子像;其次是能得到表面的三維圖像,可用于測量具有周期性或不具備周期性的表面結構。...
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