SJ/T 11471-2014
發光二極管外延片測試方法
Measurement methods for epitaxial wafers of light-emitting diodes
SJT11471-2014, SJ11471-2014
- 標準號
- SJ/T 11471-2014
- 別名
- SJT11471-2014, SJ11471-2014
- 發布
- 2014年
- 發布單位
- 行業標準-電子
- 當前最新
- SJ/T 11471-2014
- 引用標準
- GB/T 14140.2-1993 GB/T 1426.4-2009 GB/T 18907-2002 GB/T 20229 GB/T 20307-2006 GB/T 25915.1-2010 GB/T 6619 GB/T 6620 GB/T 6624-2009 GB/T 8758-2006 GB/T 8760-2006 JB/T 7503 SJ/T 11394-2009 SJ/T 11395-2009 SJ/T 11399-2009 SJ/T 11470-2014
- 適用范圍
- 本標準規定了可見光發光二極管外延片(以下簡稱外延片)的幾何參數、表面缺陷、結構參數及光電參數的測試方法。本標準適用于鎵砷磷系、鎵鋁砷系、鋁鎵銦磷系及鋁鎵銦氮系外延片。
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