BS ISO 14706:2014
表面化學分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對硅片表面元素污染物的測定
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
- 標準號
- BS ISO 14706:2014
- 發布
- 2014年
- 發布單位
- 英國標準學會
- 當前最新
- BS ISO 14706:2014
- 引用標準
- ISO 14644-1 ISO 5725-2:1994
- 被代替標準
- BS ISO 14706:2000
BS ISO 14706:2014相似標準
推薦
484項擬立項國家標準項目征求意見，這些與儀器儀表有關！
（差減法）制訂16超導電子器件-傳感器和探測器通用規范制訂17番茄制品中番茄紅素、葉黃素、胡蘿卜素含量的測定超高效液相色譜法制訂18表面化學分析全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染制訂19環境試驗第3部分：支持文件及導則溫度/濕度試驗箱性能確認修訂20表面化學分析深度剖析用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法制訂21芒果葉中芒果苷的測定高效液相色譜法制訂...
386項推薦性國家標準發布 多項與儀器分析方法相關
/T 40110-2021表面化學分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測定硅片表面元素污染2021-12-0118GB/T 40111-2021石油產品中氟、氯和硫含量的測定 燃燒-離子色譜法2021-12-0119GB/T 40114-2021首飾 貴金屬含量的測定 ICP差減法GB/T 21198.6-20072021-12-0120GB/T 40115-2021灌溉水表2021-12-0121GB...
86項分析測試方法國標本月起正式實施
玩具材料中可遷移元素銻、砷、鋇、鎘、鉻、鉛、汞、硒的測定 電感耦合等離子體原子發射光譜法GB/T 30564-2014無損檢測 無損檢測人員培訓機構指南GB/T 30565-2014無損檢測 渦流檢測 總則GB/T 30701-2014表面化學分析 硅片工作標準樣品表面元素的化學收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定GB/T 30702-2014表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜...
手持式熒光光譜儀在油氣儲運設備汞污染檢測中的應用
關于布魯克納米分析布魯克的電子顯微鏡分析儀包含EDS、WDS、EBSD和SEM上的微區XRF，它們為目前可用的材料提供了最全面的成分和結構分析。同時提供微區X射線熒光光譜儀(Micro-XRF)、便攜式/手持式X射線熒光光譜儀以及用于微量元素分析的臺式全反射X射線熒光光譜儀 (TXRF)。如需了解更多便攜式X射線熒光光譜儀，請點擊文末“閱讀原文”長按關注公眾號400-856-4000...