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KS C IEC 60747-4-1:2002
半導體器件.分立器件.第4-1部分:微波二極管和晶體管.微波領域有效晶體管.空白詳細規范

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 4－1：Microwave diodes and transistors－Microwave field effect transistors－Blank detail specification

被代替

標準號: KS C IEC 60747-4-1:2002
發布: 2002年
總頁數: 16頁
發布單位: 韓國科技標準局
替代標準: KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)
當前最新: KS C IEC 60747-4-1-2020

適用范圍: 在微波二極管和晶體管中，建立了微波場效應晶體管的標準。

專題

KS C IEC 60747-4-1:2002相似標準

GB/T 21039.1-2007 半導體器件分立器件第4-1部分:微波二極管和晶體管微波場效應晶體管空白詳細規范 GB/T 12560-1999 半導體器件分立器件分規范 SJ 20756-1999 半導體分立器件結構相似性應用指南 GB/T 6589-2002 半導體器件分立器件第3-2部分;信號(包括開關)和調整二極管電壓調整二極管和電壓基準二極管(不包括溫度補償精密基準二極管)空白詳細規范 GB/T 17573-1998 半導體器件分立器件和集成電路第1部分;總則

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