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KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)
半導體器件分立器件第4－1部分:微波二極管和晶體管微波場效應晶體管空白詳細規范

Semiconductor devices－Discrete devices－Part 4－1：Microwave diodes and transistors－Microwave field effect transistors－Blank detail specification

被代替

2020-01

標準號: KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)
發布: 2002年
發布單位: 韓國科技標準局
替代標準: KS C IEC 60747-4-1-2020
當前最新: KS C IEC 60747-4-1-2020

專題

KS C IEC 60747-4-1-2002(2017)相似標準

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