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  • JJF 1351-2012
    掃描探針顯微鏡校準規范

    Calibration Specification for Scanning Probe Microscopes


    JJF 1351-2012 發布歷史

    本規范適用于以幾何表面形貌為測量對象的掃描探針顯微鏡的校準。 掃描探針顯微鏡根據其設計原理不同,校準時需要根據實際情況選擇相關的計量特性。對有特殊要求的測量任務,如對溯源要求較高的測量,不在本校準規范的適用范圍。

    JJF 1351-2012由國家計量技術規范 CN-JJF 發布于 2012-06-18,并于 2012-09-18 實施。

    JJF 1351-2012 在中國標準分類中歸屬于: N32 放大鏡與顯微鏡。

    JJF 1351-2012 發布之時,引用了標準

    • JJF 1001-2011 通用計量術語及定義
    • GB/T 19067.1-2003 產品幾何量技術規范(GPS)表面結構 輪廓法 測量標準 第1部分;實物測量標準

    JJF 1351-2012的歷代版本如下:

    •  JJF 1351-1990 14.8MeV 中子吸收劑量基準操作技術規范
    • 2012年06月18日 JJF 1351-2012 掃描探針顯微鏡校準規范

    JJF 1351-2012



    標準號
    JJF 1351-2012
    發布日期
    2012年06月18日
    實施日期
    2012年09月18日
    廢止日期
    中國標準分類號
    N32
    發布單位
    CN-JJF
    引用標準
    JJF 1001-2011 GB/T 19067.1-2003
    適用范圍
    本規范適用于以幾何表面形貌為測量對象的掃描探針顯微鏡的校準。 掃描探針顯微鏡根據其設計原理不同,校準時需要根據實際情況選擇相關的計量特性。對有特殊要求的測量任務,如對溯源要求較高的測量,不在本校準規范的適用范圍。

    JJF 1351-2012 中可能用到的儀器設備





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