本規范適用于以幾何表面形貌為測量對象的掃描探針顯微鏡的校準。 掃描探針顯微鏡根據其設計原理不同,校準時需要根據實際情況選擇相關的計量特性。對有特殊要求的測量任務,如對溯源要求較高的測量,不在本校準規范的適用范圍。
JJF 1351-2012由國家計量技術規范 CN-JJF 發布于 2012-06-18,并于 2012-09-18 實施。
JJF 1351-2012 在中國標準分類中歸屬于: N32 放大鏡與顯微鏡。
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