ASTM E1931-09
X射線康普頓散射斷層攝影的標準指南

Standard Guide for X-Ray Compton Scatter Tomography

被代替

標準號

ASTM E1931-09

發布

2009年

發布單位

美國材料與試驗協會

替代標準

ASTM E1931-16

當前最新

ASTM E1931-16(2022)

 

 

引用標準

ANSI/ASNT CP-189 ASTM E1025 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E1441 ASTM E1453 ASTM E1475 ASTM E1647 ASTM E747 MIL-STD-410

適用范圍

康普頓散射斷層掃描的主要優點8212；CST 的主要優點是能夠執行三維 X 射線檢查，而無需接觸檢查對象的背面。 CST 提供了執行 X 射線檢查的可能性，這是任何其他方法都無法實現的。 CST 表面下切片圖像受檢查平面外的檢查對象特征的影響最小。結果是包含主要來自切片平面的信息的射線透視圖像。散射輻射限制了正常射線照相和射線透視成像中的圖像質量。散射輻射不會對 CST 產生同樣的有害影響，因為散射輻射用于形成圖像。事實上，檢查對象散射的輻射越多，CST 結果就越好。無法通過傳統射線照相和射線透視手段良好成像的低對象對比度材料通常是 CST 的絕佳候選者。 CST 斷層掃描可實現非常高的對比靈敏度和出色的空間分辨率。局限性8212；與任何無損檢測方法一樣，CST 有其局限性。該技術對于低密度材料的相當厚的部分很有用。雖然鋁材可達到 25 毫米（1 英寸）深度，塑料材可達到 50 毫米（2 英寸）深度，但隨著材料密度的增加，檢查深度會急劇減小。正確的圖像解釋需要使用具有已知內部條件或代表性質量指標 (RQI) 的標準和檢查對象。檢查體積通常很小，約為幾立方英寸，可能需要幾分鐘才能成像。因此，使用 CST 徹底檢查大型結構需要對檢查體積進行密集的重新定位，這可能非常耗時。與其他穿透輻射方法一樣，必須妥善解決輻射危害。
1.1 目的8212；本指南提供教程介紹，使讀者熟悉 X 射線康普頓散射斷層掃描 (CST) 固有的操作功能和限制。還包括 CST 物理原理和典型硬件配置的簡要描述。
1.2 優點8212；X 射線康普頓散射斷層掃描 (CST) 是一種放射無損檢查方法，具有以下幾個優點：
1.2.1 無需接觸檢查對象的另一側即可進行 X 射線檢查； 1.2.2 X射線束不需要完全穿透檢查對象，從而可以對較厚的對象進行部分檢查。厚的檢查物體成為輻射屏蔽的一部分，從而減少輻射危害； 1.2.3 在受表面特征影響最小的情況下檢查和成像物體地下特征的能力； 1.2.4 能夠從低主體對比度材料中獲取高對比度圖像，而在使用傳統透射束 X 射線成像方法時，這些材料通常會產生低對比度圖像； 1.2.5 獲得物體特征深度信息從而提供三維檢查的能力。獲得深度信息的能力以使用具有窄接收角的高度準直探測器系統為前提。
1.3 應用8212；本指南沒有規定哪些檢查對象適合或不適合CST。與大多數無損檢測技術一樣，CST 具有高度的應用特定性，因此要求首先在應用工作中證明該方法的適用性......

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