ASTM E1931-16(2022)
X射線康普頓散射斷層攝影的標準指南

Standard Guide for Non-computed X-Ray Compton Scatter Tomography

標準號

ASTM E1931-16(2022)

發布

2022年

發布單位

美國材料與試驗協會

當前最新

ASTM E1931-16(2022)

 

 

引用標準

ANSI/ASNT CP-189 ASTM E1025 ASTM E1255 ASTM E1316 ASTM E1441 ASTM E1453 ASTM E1475 ASTM E1647 ASTM E747 ISO 9712 MIL-STD-410

適用范圍

1.1 目的——本指南提供了教程介紹，旨在讓讀者熟悉單個非計算 X 射線康普頓散射斷層掃描 (CST) 固有的操作功能和限制。還包括 CST 物理原理和典型硬件配置的簡要描述。這種單一技術仍用于少量檢查。這并不意味著作為涵蓋目前用于無損檢測和安全屏幕篩選的各種康普頓散射技術的綜合指南。
1.2 優點——X 射線康普頓散射斷層掃描 (CST) 是一種放射學無損檢查方法，具有以下幾個優點：
1.2.1 無需接觸檢查對象的另一側即可進行 X 射線檢查； 1.2.2 X射線束不需要完全穿透檢查對象，從而可以對較厚的對象進行部分檢查。厚的檢查物體成為輻射屏蔽的一部分，從而減少輻射危害； 1.2.3 在受表面特征影響最小的情況下檢查和成像物體地下特征的能力； 1.2.4 能夠從低主體對比度材料中獲取高對比度圖像，而在使用傳統透射束 X 射線成像方法時，這些材料通常會產生低對比度圖像； 1.2.5 獲得物體特征深度信息從而提供三維檢查的能力。獲得深度信息的能力以使用具有窄接收角的高度準直探測器系統為前提。
1.3 應用——本指南沒有指定哪些檢查對象適合或不適合 CST。與大多數無損檢測技術一樣，CST 具有高度的應用特定性，因此需要首先在應用實驗室中證明該方法的適用性。本指南不提供 CST 技術標準化實踐或應用的指導。沒有提供有關接受或拒絕 CST 檢查的檢查對象的指導。
1.4 局限性——與所有無損檢測方法一樣，CST 也有局限性，并且是其他 NDE 方法的補充。其中最主要的限制是在高 Z 材料的厚截面上執行 CST 很困難。 CST 最適合應用于較低 Z 材料的較薄部分。下面提供了使用 160 keV 恒電位 X 射線源時 CST 適用范圍的一般概念： 材料 實際厚度范圍 鋼 最大約 3 毫米（1?8 英寸） 鋁 最大約 25 毫米（1 英寸） .) 航空航天復合材料 最大約 50 毫米（2 英寸） 聚氨酯泡沫 最大約 300 毫米（12 英寸） 該技術的局限性還必須考慮所需的 X、Y 和 Z 軸分辨率、圖像形成速度、圖像質量以及母體材料和要成像的內部特征的 X 射線散射特性的差異。
1.5 以英寸-磅和 SI 單位表示的數值應分別視為標準。括號中給出的值僅供參考。
1.6 本標準并不旨在解決與其使用相關的所有安全問題（如果有）。本標準的使用者有責任建立適當的安全、健康和環境實踐，并在使用前確定監管限制的適用性。
1.7 本國際標準是根據世界貿易組織貿易技術壁壘（TBT）委員會發布的《關于制定國際標準、指南和建議的原則的決定》中確立的國際公認的標準化原則制定的。

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