涂層厚度的測量方法主要有楔切法、光學截斷法、電解法、厚度差測量法、稱重法、x射線熒光法、射線背散射法、電容法、磁性測量法和渦流測量法。前五種方法都是有損檢測,測量手段繁瑣、速度慢,更適合抽樣檢查。? EXF鍍層測厚儀采用X熒光分析技術,可測量各種金屬涂層的厚度,包括單層、雙層、多層、合金涂層等。EXF涂層測厚儀是一種能譜分析方法,屬于物理分析方法。...
覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要一環,是產品達到優等質量標準的必備手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。 覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。 ...
從不穩定狀態要回到穩定狀態,此物資必需將過剩的能量釋放出來,而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度丈量儀或成份分析儀的原理就是丈量這被釋放出來的熒光的能量及強度,來進行定性和定量分析。 ??? 在生產進程中如何選擇X熒光測厚儀呢? ??? 首先取決于你所測產物的結構.若是只是簡單的涂層,銅箔使用普通的X熒光測厚儀就能夠解決了.如:銅箔測厚儀,涂層測厚儀. ???...
回波到回波/穿透涂層:使用回波到回波選項,儀器屏幕上會顯示金屬的實際厚度,而涂層的厚度會被忽略。穿透涂層選項測量金屬厚度與非金屬涂層的厚度,這兩個厚度都根據它們各自正確的材料聲速值得到了調整。因此,在進行厚度測量時,無需去掉材料表面的漆層或涂層。單晶:這個選項可對很多材料,如:金屬、塑料、復合材料、玻璃及陶瓷,進行非常的厚度測量。...
Copyright ?2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號