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    • ISO 16700:2004
    微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南

    Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification


    ISO 16700:2004 中，可能用到以下儀器

     

    德國徠卡 FLIM成像解決方案 STELLARIS FALCON

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    泰思肯 TESCAN AMBER X 高分辨氙離子源雙束掃描電鏡

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    Helios 5 Hydra DualBeam等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡

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    Helios 5 EXL DualBeam雙束掃描電鏡

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

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    北京歐波同光學技術有限公司

     

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    日本電子株式會社(JEOL)

     

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    賽默飛電子顯微鏡（原FEI）

     

    ISO 16700:2004

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    標準號
    ISO 16700:2004
    發布
    2004年
    中文版
    GB/T 27788-2011 (等同采用的中文版本)
    發布單位
    國際標準化組織
    替代標準
    ISO 16700:2016
    當前最新
    ISO 16700:2016
     
     
    引用標準
    ISO 5725-1:1994 ISO Guide 30:1992 ISO Guide 34:1996 ISO Guide 35:1989 ISO/IEC 17025:1999

    本國際標準規定了使用適當的參考材料校準掃描電子顯微鏡（SEM）生成的圖像放大倍率的方法。 該方法僅限于由校準參考材料中結構的可用尺寸范圍確定的放大倍數。 本國際標準不適用于專用的臨界尺寸測量SEM。

    專題

    掃描電子顯微鏡在陶瓷 開爾文掃描電子顯微鏡 電子透視掃描顯微鏡購買 便攜式掃描電子顯微鏡 電子掃描顯微鏡 依據 測試 第一臺掃描電子顯微鏡 掃描電鏡中的微米 掃描電子顯微鏡 哪幾種 落地式掃描電子顯微鏡 掃描電子顯微鏡樣品的 掃描電子顯微鏡的使用 掃描電子顯微鏡的樣品

    ISO 16700:2004相似標準

    BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南 KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－掃描電子顯微鏡－圖像放大率校準指南 KS D ISO 16700-2023 微束分析掃描電子顯微鏡圖像放大率校準指南 BS ISO 16700:2016 微束分析 掃描電子顯微鏡 校準圖像放大率的指南 JIS K 0149-1:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡法.校準圖像放大指南

    ISO 16700:2004 中可能用到的儀器設備

    FIB-SEM雙束聚焦掃描電鏡 掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM 掃描電鏡SEM 電鏡附件及外設 顯微圖像分析系統 粒子圖像測速儀(PIV)

    誰引用了ISO 16700:2004 更多引用

    BS EN ISO 19749:2023 納米技術 通過掃描電子顯微鏡測量顆粒尺寸和形狀分布


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