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  • ASTM D5796-03
    用鉆孔裝置破壞性測量薄膜盤繞覆層系統的干膜厚度的標準試驗方法

    Standard Test Method for Measurement of Dry Film Thickness of Thin Film Coil-Coated Systems by Destructive Means Using a Boring Device


    標準號
    ASTM D5796-03
    發布
    2003年
    發布單位
    美國材料與試驗協會
    替代標準
    ASTM D5796-03(2010)
    當前最新
    ASTM D5796-20
     
     
    通過物理切割薄膜并光學觀察和測量厚度來測量有機涂層的干膜厚度,與非破壞性方法相比具有直接測量的優點。涂層系統的總厚度的組成涂層通常可以通過該測試方法單獨測量,只要各層之間的粘附力足夠。 (然而,當底漆、面漆或多個涂層具有相同或非常相似的外觀時,這可能會很困難。) 1.1 本測試方法涵蓋通過顯微鏡觀察測量涂膜的干膜厚度(DFT)在涂膜上鉆出一個精密切割的淺角度...

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