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  • GB/T 15651.3-2003
    半導體分立器件和集成電路第5-3部分;光電子器件測試方法

    Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods

    GBT15651.3-2003, GB15651.3-2003


    標準號
    GB/T 15651.3-2003
    別名
    GBT15651.3-2003, GB15651.3-2003
    發布
    2003年
    采用標準
    IEC 60747-5-3:1997 IDT
    發布單位
    國家質檢總局
    當前最新
    GB/T 15651.3-2003
     
     
    適用范圍
    本部分適用于光電子器件的測試方法,用于光纖系統或子系統的除外。

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