GB/T 15651.3-2003
半導體分立器件和集成電路第5-3部分;光電子器件測試方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-3:Optoelectronic devices Measuring methods
GBT15651.3-2003, GB15651.3-2003
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- 標準號
- GB/T 15651.3-2003
- 別名
- GBT15651.3-2003
GB15651.3-2003 - 發布
- 2003年
- 采用標準
- IEC 60747-5-3:1997 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 15651.3-2003
本部分適用于光電子器件的測試方法，用于光纖系統或子系統的除外。
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