ECA CB-13-1990
鍍層厚度測定的X射線熒光
X-Ray Fluorescence for Measuring Plating Thickness
ECA CB-13-1990 中，可能用到以下儀器設備
- 標準號
- ECA CB-13-1990
- 發布
- 1990年
- 發布單位
- 美國電子元器件、組件及材料協會
- 目前有多種技術用于測量鍍層厚度。所有這些都有特殊的應用和局限性，但是，基本經濟學要求在常用的鍍層厚度范圍內測量金厚度，
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