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  • GB/T 4326-2006
    非本征半導體單晶霍爾遷移率和霍爾系數測量方法

    Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient

    GBT4326-2006, GB4326-2006


    標準號
    GB/T 4326-2006
    別名
    GBT4326-2006, GB4326-2006
    發布
    2006年
    發布單位
    國家質檢總局
    當前最新
    GB/T 4326-2006
     
     
    被代替標準
    GB/T 4326-1984
    適用范圍
    本標準規定的測量方法適用于測量非本征半導體單晶材料的霍爾系數、載流子霍爾遷移率、電阻率和載流子濃度。 本標準規定的測量方法僅在有限的范圍內對鍺、硅、砷化鎵和磷化鎵單晶材料進行了實驗室測量,但該方法也可適用于其他半導體單晶材料,一般情況下,適用于室溫電阻率高達104Ω?cm半導體單晶材料的測試。

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