GB/T 20175-2006
表面化學分析.濺射深度剖析.用層狀膜系為參考物質的優化方法
Surface chemical analysis.Sputter depth profiling.Optimization using layered systems as reference materials
GBT20175-2006, GB20175-2006
GB/T 20175-2006 發布歷史
GB/T 20175-2006由國家質檢總局 CN-GB 發布于 2006-03-27，并于 2006-11-01 實施。
GB/T 20175-2006 在中國標準分類中歸屬于: N33 電子光學與其他物理光學儀器，在國際標準分類中歸屬于: 71.040.40 化學分析。
GB/T 20175-2006 表面化學分析.濺射深度剖析.用層狀膜系為參考物質的優化方法的最新版本是哪一版？
最新版本是 GB/T 20175-2006 。
GB/T 20175-2006 采用標準及采用方式
- IDT ISO 14606:2000表面化學分析 濺射深度剖析 用層狀膜系為參考物質的優化方法
GB/T 20175-2006的歷代版本如下：
- 2006年 GB/T 20175-2006 表面化學分析.濺射深度剖析.用層狀膜系為參考物質的優化方法
為使俄歇電子能譜、X射線光電子能譜和二次離子質譜的儀器設定達到深度分辨的優化目的，本標準采用適當的單層和多層膜系參考物質，提供優化濺射深度剖析參數的指南。 特殊多層膜系（如各種摻雜層膜系）的使用不包括在本標準內。
- 標準號
- GB/T 20175-2006
- 別名
- GBT20175-2006
GB20175-2006 - 發布
- 2006年
- 采用標準
- ISO 14606:2000 IDT
- 發布單位
- 國家質檢總局
- 當前最新
- GB/T 20175-2006