IEC 60747-4-1:2000
半導體器件分立器件第4-1部分:微波二極管和晶體管微波場效應晶體管空白詳細規范

Semiconductor devices - Discrete devices - Part 4-1: Microwave diodes and transistors; Microwave field effect transistors; Blank detail specification

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標準號: IEC 60747-4-1:2000
發布: 2000年
中文版: GB/T 21039.1-2007 (等同采用的中文版本)
發布單位: 國際電工委員會
當前最新: IEC 60747-4-1:2000

IEC電子元器件質量評定體系遵循lEC章程并在1EC授權下工作。該體系的日的是確定質量評定程序，以這種方式使一個參加國按有關規范要求放行的電子元器件無需進一步試驗而為其他所有參加國同樣接受。本空白詳細規范是半導體器件的一系列空白詳細規范之一，并應與下列國家標準一起使用。 GB／T 4589．1—2006 半導體器件第10部...

IEC 60747-4-1:2000
半導體器件分立器件第4-1部分:微波二極管和晶體管微波場效應晶體管空白詳細規范

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IEC 60747-4-1:2000半導體器件 分立器件 第4-1部分:微波二極管和晶體管 微波場效應晶體管 空白詳細規范

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