IEC 60747-8-3:1995
半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 第3節:外殼額定開關場效應晶體管空白詳細規范
Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors - Section 3: Blank detail specification for case-rated field-effect transistors for switching applications
IEC 60747-8-3:1995 發布歷史
IEC 60747-8-3:1995由國際電工委員會 IX-IEC 發布于 1995-04。
IEC 60747-8-3:1995 在中國標準分類中歸屬于: L40 半導體分立器件綜合,L56 半導體集成電路，在國際標準分類中歸屬于: 31.240 電子設備用機械構件。
IEC 60747-8-3:1995的歷代版本如下：
- 1995年 IEC 60747-8-3:1995 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 第3節:外殼額定開關場效應晶體管空白詳細規范
The object of the quality assessment system for electronic components is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating country as conforming with the requirements of an applicable specif
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