GB/T 39145-2020
硅片表面金屬元素含量的測定 電感耦合等離子體質譜法
Test method for the content of surface metal elements on silicon wafers—Inductively coupled plasma mass spectrometry
GBT39145-2020, GB39145-2020
GB/T 39145-2020 發布歷史
GB/T 39145-2020由國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會 發布于 2020-10-11，并于 2021-09-01 00:00:00.0 實施。
GB/T 39145-2020 在中國標準分類中歸屬于: H17 半金屬及半導體材料分析方法，在國際標準分類中歸屬于: 77.040 金屬材料試驗。
GB/T 39145-2020的歷代版本如下：
- 2020年 GB/T 39145-2020 硅片表面金屬元素含量的測定 電感耦合等離子體質譜法
- 標準號
- GB/T 39145-2020
- 別名
- GBT39145-2020
GB39145-2020 - 發布
- 2020年
- 發布單位
- 國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會
- 當前最新
- GB/T 39145-2020
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