從公式中也可知道探針的彈性常數與靜電力有關,即,施加的直流電壓大小和表面電勢之差成正比,與懸臂的彈簧常數成反比。? 相同的實驗方法,如圖3(d-f)中所演示的,使用彈簧力為?42 N / m的AFM探針進行了額外的PFM測量。有趣的是,與使用3 N / m懸臂獲得的PFM圖像不同,使用42 N / m懸臂獲得了清晰的PFM圖像,結果如圖3(d–f)所示。...
多層樣品與其他兩個樣品不同之處在于MoS?表面具有3D金字塔狀結構。這些金字塔位于一個完全封閉的三層結構上,其形成是由于隨著層厚的增加,生長機制由逐層向三維轉變。增長的細節可以在參考文獻12中找到。導電掃描探針顯微鏡?? 本文采用兩種導電掃描探針顯微鏡(SPM)來表征MoS?的電子性質:導電原子力顯微鏡(C-AFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)。...
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy ,簡稱AFM) 原子力顯微鏡的工作原理就是將探針裝在一彈性微懸臂的一端,微懸臂的另一端固定,當探針在樣品表面掃描時,探針與樣品表面原子間的排斥力會使得微懸臂輕微變形,這樣,微懸臂的輕微變形就可以作為探針和樣品間排斥力的直接量度。...
24.原子力顯微鏡(AFM) 原子力顯微鏡的工作原理就是將探針裝在一彈性微懸臂的一端,微懸臂的另一端固定,當探針在樣品表面掃描時,探針與樣品表面原子間的排斥力會使得微懸臂輕微變形,這樣,微懸臂的輕微變形就可以作為探針和樣品間排斥力的直接量度。一束激光經微懸臂的背面反射到光電檢測器,可以精確測量微懸臂的微小變形,這樣就實現了通過檢測樣品與探針之間的原子排斥力來反映樣品表面形貌和其他表面結構。 ...
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