? ? ? ?掃描探針顯微技術主要是利用頂端約1-10?的探針來3D解析固體表面納米尺度上的局部性質。掃描探針顯微鏡SPMs就是一系列的基于掃描探針顯微術而發展起來的顯微鏡,它包括STM、AFM、LFM、MFM等等。...
掃描探針顯微術SPM? ? ?掃描探針顯微技術主要是利用頂端約1-10?的探針來3D解析固體表面納米尺度上的局部性質。掃描探針顯微鏡SPMs就是一系列的基于掃描探針顯微術而發展起來的顯微鏡,它包括STM、AFM、LFM、MFM等等。...
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy ,簡稱AFM) 原子力顯微鏡的工作原理就是將探針裝在一彈性微懸臂的一端,微懸臂的另一端固定,當探針在樣品表面掃描時,探針與樣品表面原子間的排斥力會使得微懸臂輕微變形,這樣,微懸臂的輕微變形就可以作為探針和樣品間排斥力的直接量度。...
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