UNE-EN 60749-4:2003
半導體器件機械和氣候測試方法第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).

被代替

標準號: UNE-EN 60749-4:2003
發布: 2003年
發布單位: AENOR
替代標準: UNE-EN 60749-4:2017
當前最新: UNE-EN 60749-4:2017

UNE-EN 60749-4:2003相似標準

GB/T 4937.4-2012 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第4部分：強加速穩態濕熱試驗（HAST） DANSK DS/EN 60749-4:2002 半導體器件機械和氣候測試方法第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試 (HAST) CEI EN 60749-4:2017 半導體器件機械和氣候測試方法第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST） GB/T 4937.3-2012 半導體器件.機械和氣候試驗方法.第3部分：外部目檢 OS GSO IEC 60749-4:2014 半導體器件機械和氣候測試方法第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試 (HAST)

零部件環境可靠性測試項目有哪些？

測試范圍：濃度: 0~500pphm溫度: 室溫~50℃測試參數：550*500*700mm高壓蒸煮（HAST）高壓蒸煮試驗采用高壓高濕條件，考核塑料封裝的半導體集成電路等電子器件的綜合影響，是用高加速的試驗方式評價電子產品耐濕熱的能力，常用于產品開發、質量評估、失效驗證。...

汽車電子可靠性測試標準及試驗項目介紹

目前ISO 制訂的汽車電子標準環境條件和試驗標準主要包含如下方面：　　ISO16750-1：道路車輛-電子電氣產品的環境條件和試驗：總則　　ISO16750-2：道路車輛-電子電氣產品的環境條件和試驗：供電環境　　ISO16750-3：道路車輛-電子電氣產品的環境條件和試驗：機械環境　　ISO16750-4：道路車輛-電子電氣產品的環境條件和試驗：氣候環境　　ISO16750-5...

其中很重要的測試項目就是氣候試驗，同時或按照次序進行諸如高溫、低溫、高濕、低濕，光照、乃至交變濕熱循環等測試環節，所以環境試驗箱又稱作人工氣候箱、環境測試箱、恒溫恒濕箱、高溫高濕箱、高低溫交變箱等。主要涉及到的領域有電子元器件可靠性試驗、化工及新能源材料穩定性考察、汽車及零配件設計與制造、半導體晶圓生產與封裝、藥物（化藥、中藥及生物制藥）相關穩定性研究、化妝品與食品微生物檢測、以及第三方檢測等。...

UNE-EN 60749-4:2003
半導體器件機械和氣候測試方法第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).

UNE-EN 60749-4:2003相似標準

推薦

零部件環境可靠性測試項目有哪些？

汽車電子可靠性測試標準及試驗項目介紹

環境試驗箱的多種分類方法及選型指導

UNE-EN 60749-4:2003半導體器件 機械和氣候測試方法 第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST）

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).

UNE-EN 60749-4:2003相似標準

推薦

零部件環境可靠性測試項目有哪些？

汽車電子可靠性測試標準及試驗項目介紹

環境試驗箱的多種分類方法及選型指導

UNE-EN 60749-4:2003
半導體器件機械和氣候測試方法第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試（HAST）