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OS GSO IEC 60749-4:2014
半導體器件機械和氣候測試方法第4部分：濕熱、穩態、高加速應力測試 (HAST)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)

標準號: OS GSO IEC 60749-4:2014
發布: 2014年
發布單位: GSO
當前最新: OS GSO IEC 60749-4:2014

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